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　　专利摘要显示，本申请实施例提供一种存储卡顿预测方法及设备，应用于存储领域。该方法应用于电子设备，该方法包括：数据节点在对数据节点对应的数据的读/写过程发生异常时，生成对应的异常记录，并缓存在存储固件的缓存空间，该数据节点对应的数据存储在存储固件；在对多个数据节点对应的数据进行读/ 写后，从存储固件的缓存空间处获取多个异常记录；根据多个异常记录进行卡顿预测，得到卡顿预测信息。基于上述技术方案，在对数据节点对应的数据的读/写过程发生异常时生成异常记录，并根据该多个异常记录确定卡顿预测信息可以存储固件卡顿的发生从而可以提前采取相应措施，降低了存储卡顿发生的概率。